Предназначен для измерения паразитных емкостных параметров и анализа ВФХ диодов, триодов, МОП-транзисторов, БТИЗ, тиристоров, интегральных схем, оптоэлектронных чипов и т.д; анализа ВФХ отдельных кристаллов после резки пластин; анализа коэффициентов упругости жидкокристаллических материалов. Продвинутый дизайн: LCR+напряжение затвора, VGS+напряжение стока, VDS+коммутация каналов+программное обеспечение для управления с удаленного ПЭВМ. Три метода тестирования: отдельный чип (выборочное тестирование), модуль (сканирование по списку), построение графических зависимостей (опционально). Быстрое тестирование с технологией быстрой зарядки конденсаторов. Автоматическая установка времени задержки. Защита от пробоя высоким напряжением. Возможность хранения данных и результатов измерений. 10.1-дюйма емкостной сенсорный дисплей. Интерфейсы: USB HOST, USB DEVICE, LAN, HANDLER, RS232C, RS485. Габариты составляют 430x177x405 мм, масса — до 16 кг.
Предназначен для измерения паразитных емкостных параметров и анализа ВФХ диодов, триодов, МОП-транзисторов, БТИЗ, тиристоров, интегральных схем, оптоэлектронных чипов и т.д; анализа ВФХ отдельных кристаллов после резки пластин; анализа коэффициентов упругости жидкокристаллических материалов. Продвинутый дизайн: LCR+напряжение затвора, VGS+напряжение стока, VDS+коммутация каналов+программное обеспечение для управления с удаленного ПЭВМ. Три метода тестирования: отдельный чип (выборочное тестирование), модуль (сканирование по списку), построение графических зависимостей (опционально). Быстрое тестирование с технологией быстрой зарядки конденсаторов. Автоматическая установка времени задержки. Защита от пробоя высоким напряжением. Возможность хранения данных и результатов измерений. 10.1-дюйма емкостной сенсорный дисплей. Интерфейсы: USB HOST, USB DEVICE, LAN, HANDLER, RS232C, RS485. Габариты составляют 430x177x405 мм, масса — до 16 кг.
Предназначен для измерения паразитных емкостных параметров и анализа ВФХ диодов, триодов, МОП-транзисторов, БТИЗ, тиристоров, интегральных схем, оптоэлектронных чипов и т.д; анализа ВФХ отдельных кристаллов после резки пластин; анализа коэффициентов упругости жидкокристаллических материалов. Продвинутый дизайн: LCR+напряжение затвора, VGS+напряжение стока, VDS+коммутация каналов+программное обеспечение для управления с удаленного ПЭВМ. Три метода тестирования: отдельный чип (выборочное тестирование), модуль (сканирование по списку), построение графических зависимостей (опционально). Быстрое тестирование с технологией быстрой зарядки конденсаторов. Автоматическая установка времени задержки. Защита от пробоя высоким напряжением. Функции блокировок безопасности при работе с высоким напряжением. Возможность хранения данных и результатов измерений. 10.1-дюйма емкостной сенсорный дисплей. Интерфейсы: USB HOST, USB DEVICE, LAN, HANDLER, RS232C, RS485. Габариты составляют 430x177x405 мм, масса — до 16 кг.