Анализатор силовых полупроводниковых приборов TH521

В условиях роста требований к эффективности и надежности силовых компонентов (SiC/GaN MOSFET, IGBT) критически важны точные измерения параметров в реальных рабочих режимах. Традиционные методы, основанные на паспортных данных или разрозненных измерениях, не обеспечивают необходимой достоверности.

Techmize TH521 — это высокоточный анализатор параметров силовых полупроводников, предназначенный для комплексного тестирования ключевых характеристик IGBT, MOSFET, BJT, диодов Шоттки, диодов восстановления, а также приборов на основе SiC и GaN. Функционал TH521 охватывает полный набор измерений, включая вольт-амперные характеристики (ВАХ), заряд затвора, вольт-фарадные характеристики (ВФХ), коммутационные параметры и расчёт потерь. В приборе реализованы импульсные методы измерения, что позволяет минимизировать тепловое воздействие на исследуемое устройство и получать точные параметры даже при высоких токах до 1800 А и напряжениях до 3500 В. Анализатор TH521 уверенно занимает позицию достойной альтернативы таким признанным решениям, как Keysight B1505/B1506 и Keithley 4200A-SCS, при этом предлагая ряд уникальных преимуществ.

Основные функциональные возможности

• Максимальные параметры: до 3500 В и 1800 А
• Температурный диапазон: от -50 °C до +250 °C
• Автоматизированное тестирование и сбор данных

• Встроенный инструмент создания пользовательских алгоритмов на Python с элементами машинного обучения

• Импульсный режим с минимальной длительностью импульса от 10 мкс
• Измерение паразитных параметров: Ciss, Coss, Crss, Rg, Qg и др.

• Построение временных осциллограмм токов и напряжений

Область применения

• Полупроводниковые приборы: MOSFET, IGBT, диоды, тиристоры, транзисторы, интегральные схемы, оптоэлектронные компоненты
• Пластинные элементы: анализ кристаллов после распила
• Конденсаторы и емкостные датчики
• Анализ ВФХ жидкокристаллических и других функциональных материалов

Устройство имеет модульную архитектуру, позволяющую настраивать конфигурацию в зависимости от задач пользователя. Это делает его незаменимым как в научных исследованиях, так и в условиях серийного производства.

Все модели поддерживают работу с температурными камерами и автоматическими системами тестирования, что позволяет использовать прибор как в лабораторной среде, так и в составе автоматизированных измерительных комплексов.

Измеряемые параметры

Импульсный режим измерений

В импульсном режиме длительность импульса может составлять всего 10 микросекунд, что позволяет точно зафиксировать ключевые характеристики устройства без значительного самонагрева. В зависимости от модели системы, обеспечивается поддержка номинала тока вплоть до 1800 А, что особенно важно при тестировании компонентов, рассчитанных на работу в силовых инверторах и импульсных источниках питания.

Такая методика обеспечивает снятие характеристик в условиях, максимально приближенных к реальной эксплуатации, но при этом предотвращает тепловое разрушение образца.

Интерфейсы и управление

• Поддержка USB, RS-232, Ethernet (LAN)
• HANDLER-порт для интеграции в автоматические тестовые установки (ATE)
• Управление с ПК через Tonghui Power Device Suite
• SCPI-совместимость
• Поддержка Python, LabVIEW, .NET API
• Возможность создания пользовательских тестов с макросами, шаблонами и экспортом в Excel/CSV

Области применения анализатора TH521 охватывают все ключевые этапы жизненного цикла силовых полупроводников — от разработки до финального контроля.

В ходе разработки устройство позволяет сравнивать транзисторы по параметрам RDS(on), Qg и Coss, а также выполнять подбор драйверов, ориентируясь на точно измеренное значение заряда затвора Qg. Кроме того, оно обеспечивает возможность тестирования компонентов в предельных режимах работы, включая температурные экстремумы.

В задачах контроля качества TH521 применяется для скрининга производственных партий по таким критически важным характеристикам, как RDS(on), Vth и напряжение пробоя BV. Инструмент также используется для верификации соответствия компонентам отраслевым стандартам — IEC, AEC-Q101 и JEDEC — и позволяет эффективно выявлять экземпляры с избыточными токами утечки или нестабильным пороговым напряжением.

При испытаниях на надежность, включая HALT и HASS, TH521 используется как до начала циклов, так и после их завершения, предоставляя данные о возможной деградации параметров. Он также эффективно применяется для контроля изменений после термоциклирования, помогая оценить долговечность и стабильность устройств.